日期：2007-07-11 来源：

        半导体测试协会(STC)宣称，新的开发测试设备(ATE)外围接口标准的公开活动已经取得了重大进展。这个半导体测试接口扩展(STIX)公开活动据说可以解决ATE不断增加的成本和效率挑战。 

        STIX公开活动同时包含开放式硬件和软件规范。STIX公开活动的关键在于新技术、新产业驱动的工作机构的不断成立以从事这些外围领域的工作，这些领域是在战略上创建的，旨在吸引更多针对测试的评论意见。 

        新的工作机构将加入一些已经侧重于硬件扩展坞、探针卡、标准测试接口语言(STIL)和合作的产业大学研究项目的STC工作机构。 

        对于STC而言，这仍然是一个费力的工作。多年来，ATE的公司已经单独开发了各种专有测试装置，但是这种模式的问题在于总测试成本最近出现了暴增。 

        作为响应，Advantest、Intel等公司在2002年也有所作为，成立了STC。STC的目标是为ATE制造一个“开放架构”，这将会实现测试装置的“即插即用”第三方模块的开发。在做这些工作的同时，STC希望降低不断上涨的IC测试成本。