CISC半导体公司推出RFID测评系统

日期：2007-08-13

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        CISC半导体公司开发了一套新的测评系统，设计该产品是为了帮助其它公司测试在运营中应用的RFID技术。　RFID测评＆评估测试系统（MeETS）目前已经面市，将帮助公司找出放置RFID应答器的最佳位置，并评估各种频率以及不同应答器的识读范围。 

        MeETS系统基于National Instruments的NI LabVIEW软件，该软件为设计、管理和测试应用提供绘图开发环境；MeETS系统也基于PXI硬件，一开放的，供测试、测评和管理的PC平台。 CISC RFID MeETS目前推出三种版本：适用于LabVIEW的CISC RFID MeETS、CISC RFID MeETS配置NI PXI硬件以及CICS推荐给实验室或研究测试中心的完整软硬件装置。 

        据该公司表示，CISC RFID MeETS的开发是遵循ISO认可和EPCglobal推荐的标准。

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