日期：2007-11-12 来源：

      FormFactor发表Harmony全区12寸晶圆针测解决方案的最新成员——Harmony晶圆级预烧(Wafer-Level Burn-In，WLBI)探针卡。 Harmony WLBI探针卡能提高作业流量，并且确保半导体元件的品质与可靠度。 Harmony WLBI探针卡一次能接触约4万个测试焊垫，还能在高温(最高130℃)下测试整片12寸晶圆。

　　Harmony WLBI探针卡结合各种电子元件以及新型3D MEMS MicroSpring接触器，能承受高温的预烧测试，降低清理次数，提高探针卡的可用度以及测试元件的生产力。 FormFactor专利技术可以增加同时测试晶粒的数量，运用现有的测试设备资源。

　　Harmony WLBI是FormFactor确保合格裸晶(known good die，KGD)专属探针卡解决方案的一个重要元件，这类元件必须进行测试、确定符合规格后才能进行封装。确保合格裸晶的应用范例包括手机与便携式媒体播放器，这类产品会把多种元件整合至一个系统级封装(SiP)芯片或多芯片封装(MCP)。